島津 SPM-8100FM原子力顯微鏡
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摘要
使用調頻模式的新型HR-SPM高分辨率原子力顯微鏡，不僅可以在空氣及液體環境中實現超高分辨率，而且觀察到了固液界面的水化/溶劑化作用的液體分層
產品介紹
高分辨原子力顯微鏡
觀察生動的納米
使用調頻模式的新型HR-SPM高分辨率原子力顯微鏡，不僅可以在空氣及液體環境中實現超高分辨率，而且觀察到了固液界面的水化/溶劑化作用的液體分層。
HR-SPM: 高分辨原子力顯微鏡
HR-SPM特點
使用調頻模式
空氣和液體中的噪音降低到傳統模式的二十分之一
在空氣和液體環境中也能達到超高真空原子力顯微鏡的分辨率現有的掃描探針顯微鏡 (scanning probe microscopes)和原子力顯微鏡(atomic force microscopes) 通常使用調幅模式(amplitude modulation).從原理上, 調頻模式(frequency modulation) 可以達到更高的分辨率。
SPM ： 掃描探針顯微鏡 AFM ： 原子力顯微鏡 AM ： 調幅模式 FM ： 調頻模式
與現有SPM/AFM的區別
液體環境中原子分辨率觀察
NaCl飽和溶液中觀察固體表面的原子排列。使用調幅模式的傳統原子力顯微鏡，圖像完全被噪音遮蓋（左圖），但在調頻模式下，原子排列清晰可見（右圖）。調頻模式實現了真正的原子級分辨率。 空氣中Pt催化劑顆粒的觀察1)
KPFM: 掃描開爾文顯微鏡
TiO2基底上的Pt顆粒， 通過KPFM進行表面電勢的測定，TiO2基版上的Pt催化粒子可被清晰識別。同時可以觀察到數納米大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中，紅色 區域是正電勢，藍色 區域是負電勢。對于PKFM觀察，FM模式也大幅提高了分辨率。
注: KPFM需要特定的基底。
引用文獻：
Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).
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