島津 電子探針EPMA-1720 Series
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產品介紹
電子探針EPMA-1720 Series
高靈敏度 · 高精度 · 高分辨率 「簡單?易懂的操作」
從軟件到硬件凝結了新技術,鑄就了新一代EPMA。島津EPMA在保持了一貫的高靈敏度·高精度·高分辨率的基礎上,又新增了簡單·易懂的操作性能。既可滿足初學者簡易操作的需求,又能適合科研分析。
設計的X射線分光器可以實現高靈敏度·高精度分析
X射線取出角決定分析性能,52.5°高取出角更勝一籌
圖為小孔穴中異物的分析實例。左下圖為鐵(Fe)、右下圖為鈦(Ti)的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角,對表面凹凸明顯的樣品也能進行高精度分析。從SEM觀察到開始分析,簡便易行,大幅度提高工作效率。
同一顯示器上同時顯示高靈敏度的光學圖像和SEM圖像
在同一個顯示器上觀察光學圖像和SEM圖像。
SEM圖像和光學圖像在同一顯示器上,減少視線的移動。通過高靈敏度的CCD可以觀察很暗的樣品。
只需單擊一下即可開始SEM圖像觀察。
只需點擊【SEM AUTO】圖標,就可以根據事先設定的條件進行SEM圖像的觀察。
束流變換更加簡單·快速·高精度。
只需選定束流目標值即可快速、高精度地自動設定束流。
通過聯動控制,束流大小改變后也能保持圖像狀態。
※外觀及規格的變動,恕不另行通知。